Impacto De Nuevos Mecanismos De Fallo En Las Estrategias De Test Y Diagnóstico De Circuitos CMOS
TEC2005-01027
Partners: Universitat Politècnica de Catalunya
Dates: 1-1-2006 to 31-12-2008
Contact professor: FIGUERAS PAMIES, JOAN joan.figueras@upc.edu
Other researchers: Balado Suárez, Luz Maria
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Funding institution: Ministerio de Ciencia y Tecnología