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Impacto De Nuevos Mecanismos De Fallo En Las Estrategias De Test Y Diagnóstico De Circuitos CMOS

TEC2005-01027

Partners: Universitat Politècnica de Catalunya

Dates: 1-1-2006 to 31-12-2008

Contact professor: FIGUERAS PAMIES, JOAN joan.figueras@upc.edu

Other researchers: Balado Suárez, Luz Maria

Web page (if available): -

Funding institution:  Ministerio de Ciencia y Tecnología