Vés al contingut (premeu Retorn)

QINE-Low Power Design, Test, Verification, and Fault Tolerance

qine_group.gif

L'objectiu del grup de recerca és avançar en noves metodologies de disseny per a circuits i sistemes electrònics i incrementar la seva qualitat assegurant el seu bon funcionament. Els objectius de la recerca estan centrats en tres dominis. Un dels objectius s'encarrega de l'avavenç de les tècniques de disseny per a circuits de baixa potència i tecnologies CMOS nanomètriques. En el domini d'augmentar la qualitat funcional l'objectiu del grup és innovar en mètodes de testeig, auto-test i anàlisi de la integritat del senyal de circuits analògics, digitals i de senyal mixte. Finalment, un tercer objectiu considera tècniques per a augmentar la qualitat funcional a través de proporcionar una tolarància a la fallida dels errors que s'escapen dels mètodes de test de circuits i sistemes.


 

Escola Tècnica Superior d'Enginyers Industrials de Barcelona (ETSEIB)
Electronics Engineering Department
Av. Diagonal 647, P9 08028 Barcelona (Catalonia) SPAIN
Telèfon: +34 934 016 603
Coordinadors: Joan Figueras
E-mail : joan.figueras@(upc.edu)