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QINE-Low Power Design, Test, Verification, and Fault Tolerance

QINE-Low Power Design, Test, Verification, and Fault Tolerance

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El objetivo global del grupo de investigación es avanzar en nuevas técnicas de diseño para los sistemas y circuitos electrónicos y augmentar su calidad a través de asegurar su correcto funcionamiento. Los objetivos de investigación están centrados en tres dominios. Uno de los objetivos se ocupa del avance de las técnicas de diseño para circuitos de baja potencia y sistemas en tecnologías CMOS nanométricas. En el dominio de incrementar la calidad funcional el objetivo del grupo es inovar en métodos de Testeo, Auto-test y análisis de integridad de señal en circuitos analógicos, digitales y de señal mezclada. Finalmente, un tercer objetivo considera técnicas para incrementar la calidad funcional mediante tolerancia al fallo de fallos que escapan de los métodos de testeo de circuitos y sistemas.

 

Escola Tècnica Superior d'Enginyers Industrials de Barcelona (ETSEIB)
Electronics Engineering Department
Av. Diagonal 647, P9 08028 Barcelona (Catalonia) SPAIN
Teléfono: +34 934 016 603
Coordinadores: Joan Figueras
E-mail : joan.figueras@(upc.edu)